| ||||
Программное обеспечение для автоматизированного DC и RF тестирования | ||||
|
Программное обеспечение для автоматизированного DC и RF тестирования
Компания Agilent Technologies анонсировала выпуск программное обеспечение для характеризации и анализа полупроводниковых интегральных схем и приборов IC-CAP и WaferPro. Новое программное обеспечение позволяет проводить автоматизированные DC и RF измерения. Утилита WaferPro позволяет пользователям управлять зондовой станцией в полуавтоматическом или автоматическом режиме, а также позволяет автоматизировать измерения в диапазоне температур. WaferPro позволяет напрямую управлять параметрическими измерительными системами 4070 и 4080 компании Agilent, благодаря чему можно значительно повысить скорость измерений. Комментарии:Добавить комментарий: |
|||
| ||||
|