Программное обеспечение для автоматизированного DC и RF тестирования

    

---

<< Назад, к списку новостей    Дата: 2010-09-07

---

   Компания Agilent Technologies анонсировала выпуск программное обеспечение для характеризации и анализа полупроводниковых интегральных схем и приборов IC-CAP и WaferPro. Новое программное обеспечение позволяет проводить автоматизированные DC и RF измерения. Утилита WaferPro позволяет пользователям управлять зондовой станцией в полуавтоматическом или автоматическом режиме, а также позволяет автоматизировать измерения в диапазоне температур. WaferPro позволяет напрямую управлять параметрическими измерительными системами 4070 и 4080 компании Agilent, благодаря чему можно значительно повысить скорость измерений.

   Источник

---

Комментарии:

Нет ни одного комментария. Ваш будет первым!

---

Добавить комментарий:

	Ваше имя:
	Комментарий:
	Защита от автозаполнения:

---

---